Sub-Ns X-ray Diffraction Imaging for Microelectronics
Enregistrez cette offre et organisez votre recherche
Créez un compte gratuit pour enregistrer des offres d'emploi, créer des alertes et revenir à cette liste depuis votre tableau de bord.
En continuant, vous acceptez nos Conditions d’utilisation & Politique de confidentialité.
The European Synchrotron Radiation Facility invites applications for a PhD thesis position in Sub Nanosecond Imaging of Operating Microelectronic Devices by X-ray Diffraction Microscopy at ID01. The project aims to image lattice strain in SiGe(Sn) devices under realistic operation, advancing 3D strain-temperature imaging at the diffraction microscope setup.
The successful candidate will join the ID01 team, collaborate with European semiconductor groups, and develop experimental techniques and
#J-18808-Ljbffr